(资料图)
1、 椭偏仪,是一种用于探测薄膜厚度、光学常数以及材料微结构的光学测量设备。
2、由于并不与样品接触,对样品没有破坏且不需要真空,使得椭偏仪成为一种极具吸引力的测量设备。
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